显微图像去卷积及其他的图像修复功能
Huygens 的去卷积功能适合使用于以下的显微镜系统：
*共聚焦系统 *宽埸成像系统 *旋转盘共聚焦系统 *多光子共聚焦系统 *超高分辨率 STimulated Emission Depletion microscopes, STED 系统 *3D STED 系统 *光片照明 (SPIM)
Huygens 图像修复功能
*Object Stabilizer
这个功能可以测量样本的位移，例如：细胞的移动，样本因为热而漂移（Thermal drift）及其他的位移，这个位移除了 ⅹyz 的位移也包括样本或图像的转动，Huygens 测量所有的位移后再作出修正，这个功能可以使用于两维或三维的显微图像。
*Crosstalk Corrector
在多通道萤光显微图像中，有时候一个通道的萤光讯号会被另一个通道的激发光而激发，而在另一波长的通道显示出微弱的图像，使用的萤光通道越多这种情况越常见。 Huygens 软件能测量、作出计算及估计、再为您的显微图像作出修正。
*Chromatic Aberration Corrector
这个功能测量多通道图像的色差，例如：通道之间 xyz 的漂移、转动及图像因放大或缩小而产生的偏差 (Scaling) 。这个功能可以修正显微系统中硬体校对微小的偏差。
*Stitcher
拼图功能可以拼接大量的两维及三维显微图像，这个功能目前支持 Leica 的 *.LIF 文件及 Zeiss 的 *.CZI 文件。 Huygens 读取文件的资料，把图像排列，侦测重叠部分再作出拼接。除此之外，这个功能具备有自动或测量的暗角校正及去卷积的选择，方便用户的需要。
*Hot Pixel Remover
这个功能包括在所有 Huygens 软件 (Essential 及 Professional)。这个功能是免费的，它可以侦测 Hot pixels （图像中亮度极高的小点，这些小点是由显微镜的 CCD 产生的，小点的多少往往与 CCD 的温度成正比）。 huygens 软件会把小点侦探出来再跟据邻近的pixel 作出修正。