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Huygens STED deconvolution


HIA Full


STED(Stimulated Emission Depletion)顕微鏡により、50 nm 範囲の超解像イメージングが可能になります。 残念ながら、この光学解像度の向上は、欠点にもつながります、デプレションレーザーによって、多くの蛍光体が枯渇するため、検出器によって捕捉されるシグナルが低下します(フォトンが少なくなります)。 フォトン統計のポアソン性質のため、結果として、得られる画像の S/N 比は、通常のコンフォーカルイメージングと比較して減少します。 したがって、STED 画像の SNR 値は、コンフォーカル画像に比べてはるかに低くなります。

幸いなことに、STED 画像の Huygens デコンボリューションは、優れたソリューションを提供します。 2012 年以降、Huygens ソフトウェアは、STED 顕微鏡パラメータに基づいて、理論上の PSF を生成できるようになりました。 この理論上の PSF は、デコンボリューションプロセスで使用できます、これにより、画像のノイズが大幅に減少し、コントラストが最大 10 倍向上します。 さらに、Huygens デコンボリューションアルゴリズムは、画像の解像度を横方向と軸方向の両方で 2 倍に高めることができます。 Huygens STED デコンボリューションに関する Microscopy Today の記事も参照してください。

このページには、STED 画像を最適にデコンボリューションするために必要な実用的な情報がすべて記載されています。 STED の理論的背景については、STED 顕微鏡ページを参照してください。

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